低溫低濕環(huán)境試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：低溫低濕環(huán)境試驗(yàn)箱目的是仿真產(chǎn)品在氣候環(huán)境溫度條件下（高低溫操作& 儲(chǔ)存、結(jié)露試驗(yàn)...等），檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變。
※ 需符合性規(guī)范之要求（IEC、JIS、GB、MIL…）以達(dá)到間量測(cè)程序*性（含測(cè)試步驟、條件、方法）避免認(rèn)知不同，并縮小量測(cè)不確定的因素范圍發(fā)生。

所屬分類：低溫試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2024-05-21

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

低溫低濕環(huán)境試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

◆同容積在承受較大存放區(qū)域和負(fù)載發(fā)熱量；

◆采用美國(guó)新型PWM冷媒控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行

◆防止測(cè)試品不結(jié)露控制條件；

◆通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存下載功能

◆機(jī)臺(tái)多重報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無線遠(yuǎn)程報(bào)警功能

◆防止靜電降耗能力強(qiáng)，達(dá)到同行業(yè)中性能更高標(biāo)準(zhǔn)；

低溫低濕環(huán)境試驗(yàn)箱創(chuàng)新技術(shù)：

傳統(tǒng)設(shè)備低溫控制方式：制冷壓縮機(jī)啟?？刂茰囟龋囟炔▌?dòng)大、嚴(yán)重影響壓縮機(jī)壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實(shí)現(xiàn)溫度動(dòng)態(tài)平衡，浪費(fèi)了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制冷劑流量和流向，對(duì)制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對(duì)工作室溫度的自動(dòng)恒定。此方式在低溫工況下，可實(shí)現(xiàn)降低40%的能耗。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法

IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；

GJB150.3 高溫試驗(yàn)

技術(shù)規(guī)格：

Models	SED-150	SED-225	SED-408	SED-800	SED-1000
內(nèi)箱尺寸 W x D x H cm	50×50×60	50×60×75	60×80×85	100×80×100	100×100×100
外箱尺寸 W x D x H cm	115×75×150	115×85×165	130×105×170	165×105×185	170×125×185
溫度范圍	-70℃,-40℃,-20℃,0℃ ～ +150℃
控制器解析度	±0.01℃/min,±0.1%RH/min
偏差	±0.5℃，±2.0%RH
溫度均勻度	±1.0℃(-40℃～100℃)/±2.0℃(-40℃～+70℃;+100.1℃～+150℃)
控制器	韓國(guó)*